更新时间:2026-01-22
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FTIR在材料分析中的典型测试流程
1. 样品准备
根据材料形态选择制样方式:
- 固体粉末:采用(KBr)压片法,取1~2mg样品与100~200mg干燥KBr粉末充分研磨混匀,压制成透明薄片;不适合KBr的样品可选用ATR附件直接测试。
- 液体样品:液膜法(滴在两片KBr窗片之间)或涂膜法(涂在KBr窗片表面);易挥发液体需用密封液体池。
- 薄膜/块状样品:直接用ATR附件贴合测试,或切割成合适尺寸置于样品架。
注意:样品需干燥、无杂质,避免水分和污染物干扰谱图。
2. 仪器准备与参数设置
- 开启FTIR仪器,预热至稳定状态,放入空白背景片(如KBr片、ATR晶体空扫)采集背景光谱,消除环境、光路及背景片的干扰。
- 设置测试参数:扫描范围通常为4000~400 cm⁻¹(中红外区),分辨率选择4 cm⁻¹(常规分析),扫描次数16~32次(提高信噪比)。
3. 样品测试
将制备好的样品放入样品仓对应位置,启动测试程序,仪器自动采集样品的干涉图并转化为样品红外光谱图。
若需定量分析,需制备系列浓度标准样品,采集标准光谱建立校准曲线。
4. 谱图分析与数据处理
- 定性分析:将样品谱图与标准谱库(如萨特勒谱库)进行比对,根据特征吸收峰的位置、强度和形状,识别材料中的官能团,确定材料的成分及结构。
- 定量分析:选择目标成分的特征吸收峰,通过峰面积或峰高结合校准曲线,计算目标成分的含量。
- 数据优化:进行基线校正、平滑处理、峰值检索等,去除噪音和基线漂移的影响。
5. 测试后清理与记录
- 取出样品,清洁样品架、KBr窗片或ATR晶体,防止残留样品污染仪器。
- 保存原始谱图和测试参数,撰写分析报告,记录样品信息、测试条件、谱图解析结果及结论。
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