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涂镀层厚度分析仪
产品简介:

涂镀层厚度分析仪:微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.002mm2的样品也可轻松,精准检测。变焦装置及位置补偿算法:可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm.自主研发的EFP算法:多层元素,各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。

产品型号:XTU-4C

更新时间:2025-08-18

厂商性质:生产厂家

访 问 量 :375

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产品介绍


      涂镀层厚度测试仪:全面升级下照式探测器,多模态人机交互,搭载*的EFP算法软件同时升级成新一代微纳米芯片元器件,在检测多层合金,上下元素重复镀层及渗层时更加精准,稳定。

      微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.002mm2的样品也可轻松,精准检测。

      变焦装置及位置补偿算法:可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm.

      自主研发的EFP算法:多层元素,各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。

      微米级移动精度:高精密XY移动滑轨,实现多点位,多样品的精准位移和同时检测,移动精度可达微米级,轻松应对极微小样品检测。

匠心打造的新一代设计,是一款具科技感的一机多用型光谱仪,采用*的EFP算法和微光聚集技术的同时搭配新一代的多道及时序排列,专精型既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区ROHS检测及全元素分析,每一个功能都是专业的。

      微聚焦X射线发生器和*的光路转换聚焦系统,最小测量面积大0.03m2,可变焦装置及位置补偿算法:可对各种异形凹槽件进行无损检测。凹槽深度范围0-30mm。自主研发的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层。多层多元素,甚至有同种元素在不同层可以精确测量。

      一机多用,精检精测:各装置高度集成,不分散,不弱化光强,能够兼顾ROHS,全元素分析,各种大小异形涂镀层样品的快速精准检测。

     有任何问题都可以随时联系,24小时在线。



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