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XAD-200是一款全元素上照式荧光光谱仪，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能，又可满足RoHS有害元素检测及成分分析，搭载全自动平台实现XYZ轴编程位移，实现无人值守多点测量，测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术，解决了诸多业界难题。
镀层测厚仪：多元迭代的EFP算法充分运用各种已知条件及谱图，参与运算出更多使用者需求的检测结果，关联：已知、未知及半定量，成分、密度、轻元素、有机物、化合物等等。
