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光学镀膜椭偏仪ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪,凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的投入,其采用行业前沿的创新技术,包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。
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光密度仪OD值测试 LS117光密度仪主要用于测量材料的光密度和透光率值,主要适用于以下三大类材料的测量:乳白,雾状,磨砂毛面等各种漫透射材料的透光率;X光片,铝膜等材料的光密度测量;各种菲林胶片的光密度,相对光密度,网点面积率测量。